2019.11.01

［IS部(現:技術営業部)］蛍光Ｘ線膜厚計を導入しました。

10月、新たに蛍光X線膜厚計を導入しました。
蛍光X線膜厚計は主にめっきの膜厚を非接触・非破壊で測定できる装置で、測定したいサンプルにX線を照射して検出された波形から皮膜成分を定性し、厚みを測定します。

また、Zn-Niめっきなどの合金めっきなどの析出比率や簡単な素材の材料分析などにも使用できます。
ご興味のある方は、ぜひお気軽にお問合せ下さい。